Il s’agit d’une étape automatisée au cours de laquelle le système SIEMENS Inspekto VIS effectue tous les calculs nécessaires à la préparation du profil pour l’inspection.
Dans certains cas, une fois les calculs terminés, le système SIEMENS Inspekto VIS affichera des échantillons présentant une forte probabilité d’anomalies.
Il s’agit d’échantillons dans lesquels le système SIEMENS Inspekto VIS a trouvé des défauts suspects, même s’ils ont été ajoutés en tant qu’échantillons OK.
Le système SIEMENS Inspekto VIS vous demandera de vérifier si l’échantillon présenté est OK ou NOK.
Par exemple, l’échantillon suivant présente une anomalie suspectée qui n’est pas un véritable défaut :
Dans ce cas, cliquez sur le bouton vert OK en bas au centre de l’écran.
Dans les cas où l’image présentée présente un véritable défaut, cliquez sur le bouton rouge NOK :
Cela ajoutera un échantillon NOK au profil.
Les échantillons NOK aident le système SIEMENS Inspekto VIS à augmenter la sensibilité pour des types spécifiques de défauts sans compromettre la sensibilité de tout autre type de défaut.
Après avoir cliqué sur le bouton rouge NOK, vous pouvez modifier les marques de défaut sur l’image.
La modification de ces marquages peut aider le système SIEMENS Inspekto VIS à mieux détecter ce type de défauts à l’avenir.
Les marquages de défauts sont modifiés de la même manière que n’importe quel autre marquage. Lorsque vous entrez cette option, le système SIEMENS Inspekto VIS affiche le panneau de marquage avec une section supplémentaire « Défauts » :
Lorsque vous avez terminé l’édition, cliquez sur le bouton « Enregistrer ».
Après l’ajout d’échantillons NOK, le système SIEMENS Inspekto VIS effectuera à nouveau l’étape « analyser les échantillons ».
Sujet parent : Création d’un profil d’inspection